Az MKS Instruments műszaki cég új rendszert vezet be a lézersugarak infravörös hullámhosszú mérésére

Az MKS Instruments technológiai vállalat a közelmúltban bemutatta az Ophir BeamWatch Plus új, érintésmentes sugárprofilozó rendszert a látható és közeli infravörös tartományban működő nagy teljesítményű ipari lézerek fókuszeltolásának, fókuszméretének és pozíciójának mérésére.
Az Image BeamWatch Plus a lézerfotonika területén bevezetett rendszerek második generációja, amely immár látható hullámhosszon (420-635 nanométer) nagy teljesítményű lézereket is képes mérni, elsősorban zöld és kék lézereket, valamint a közeli infravörös sugárzást. régió (950-1,100 nanométer).
Az ipari anyagfeldolgozó alkalmazásokban használt nagyteljesítményű YAG, szálas és dióda lézerekkel való használatra tervezett BeamWatch Plus ideális hegesztési és vágási műveletekhez anyagfeldolgozó és autóipari alkalmazásokban, mint például akkumulátorcellák rézhegesztése és hajtűhegesztés.
A rendszer sugárindukált Rayleigh-szórást használ a folyamatos mérésekhez. Ez biztosítja a fókuszpont méretének, a nyaláb helyzetének és a teljes sugárnyaláb fókuszdiszperziójának azonnali leolvasását, valamint a fókuszsík helyzetének dinamikus mérését a folyamat indítása során. A gerenda mérése gyakori időközönként történik anélkül, hogy le kellene állítani a folyamatot, vagy el kellene távolítania a kiterjedt szerszámokat és rögzítéseket.
"Mivel nincs érintkezés a lézersugárral, a BeamWatch Plusnak nincs teljesítménykorlátozása" - mondta Reuven Silverman, az Ophir Photonics vezérigazgatója. "Sikeresen alkalmazták nagy teljesítményű lézerekhez, teljesítménykorlátozás nélkül, 100 kilowattig tesztelve. A hagyományos nyalábmérő rendszerek szondákat helyeznek a sugárba, ami potenciális károsodáshoz vezethet, és két percre lelassítja a mérési folyamatot az adatgyűjtéshez és a jellemzéshez a sugár. A BeamWatch Plus azonnali leolvasást biztosít a fókuszpont méretéről és a sugárpozícióról, valamint a fókuszsík helyzetének dinamikus méréséről a folyamat indítása során."
A BeamWatch Plus profilozó rendszer nagy nagyítású optikával rendelkezik, amely akár 45 m-es foltmérettel is képes mérni a sugarakat. A BeamWatch Plus akár 45 m-es foltmérettel is képes mérni a nyalábokat. Ez kisebb, pontosabb vágásokat tesz lehetővé kevesebb anyagveszteséggel. A fókuszpozíció másodpercenként többször is mérhető annak nyomon követésére, hogy van-e fókuszeltolódás a kritikus indítási pillanatokban. A rendszer kéttengelyes mérést tesz lehetővé, így a felhasználó két merőleges tengelyről láthatja a lézersugarat. A mérések minden tengelyen kiszámításra kerülnek, és részletes információkat szolgáltatnak a lézer működéséről. A fókuszeltolódások mindkét tengelyen nyomon követhetők, és a mérések segítségével megállapítható a nyaláb kereksége vagy az asztigmatizmus megléte.
Szoftvere pontosan, valós időben elemzi a lézeres Rayleigh-szórás által előállított képeket. A számítások a sugár derékméretéből és helyzetéből, a fókusz eltolásából, az M2-ből, a divergenciából és egyéb minőségi paraméterekből állnak. A kulcsfontosságú lézerteljesítmény-paramétereket az előre beállított tartományokkal hasonlítják össze, hogy megfelelő/nem megfelelő leolvasást kapjanak, így a lézerhasználók tudják, mikor kell korrekciós intézkedéseket tenni. A szoftver automatizált vezérlőfelületeket is tartalmaz a rendszerintegrációhoz.